在偏光顯微鏡鏡家族中,徠卡偏光顯微鏡的應用非常普遍,但很多時候使用者并不十分了解徠卡偏光顯微鏡的有關原理、特點和裝置檢測方面的相關要求,讀到此文的朋友有福了,一文了解徠卡偏光顯微鏡,請繼續閱讀!
1.徠卡偏光顯微鏡的基本原理
偏光顯微鏡必須具備以下附件:起偏鏡,檢偏鏡,補償器或相位片,無應力物鏡,旋轉載物臺。
2.徠卡偏光顯微鏡的特點
將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法,以鑒別某一物質是單折射(各向同行)或雙折射性(各向異性)。雙折射性是晶體的基本特性。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物、化學等領域,在生物學和植物學也有應用
3.徠卡顯微鏡在裝置上的要求
光源:采用單色光,因為光的速度,折射率,和干涉現象由于波長的不同而有差異。一般鏡檢可使用普通光。
目鏡:要帶有十字線的目鏡。
聚光鏡:為了取得平行偏光,應使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。
伯特蘭透鏡:聚光鏡光路中的輔助部件,這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡。它可保證用目鏡來觀察在物鏡后焦平面中形成的平涉圖樣。
4.徠卡偏光顯微鏡檢術要求
載物臺的中心與光軸同軸。
起偏鏡和檢偏鏡應處于正交位置。
制片不宜過薄。
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